薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到...
粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細灰,粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物。粉煤灰是我國當前排量較大的工業(yè)廢渣之一。大量的粉煤灰不加處理,就會產(chǎn)生揚塵,污染大氣;若排入水系會造成河流淤塞,而其中的有毒化學物質還會對人體和...
D8 DISCOVER特點:微焦源IμS 配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供小X射線束,非常適合小范圍或小樣品的研究。 1.毫米大小的光束:高亮度和很低背景 2.綠色環(huán)保設計:低功耗、無耗水、使用壽命延長 3.MONTE...
X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結構樣品進行無損表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析: 掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結構性質測定,包括微晶尺寸和應變。 ...
材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,因此擴展了D8 ADVANCE Plus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動:X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品;緊湊...
API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質量控制技術和方法指導原則”:指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時,應使用“優(yōu)勢藥物晶型物質狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,以保證藥品臨床有效性、安全性與質量可控性。說明目前藥物行業(yè)對晶型的重視...
超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術的發(fā)展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節(jié)點的a20范圍內。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術...
D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經(jīng)濟型版本,是D8衍射儀系列平臺的入門款。隨著采購和維護X射線分析的資源愈發(fā)有限,人們對準確性、精度和速度的要求也達到了前所未有的高度。D8ADVANCEECO即理想的解決方案:較小的生態(tài)足跡、...
對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,通常需要進行殘余應力和織構測量。通過消除樣品表面的拉應力或引起壓應力,可延長其功能壽命。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成。構成塊狀樣品的微晶的取向,決定了裂紋的生長方式。而通過在材料中形成特定的織構,可顯著增強其特性...
二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學性質不活潑,且具有高熔點、高電阻率、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨特的物理化學性質,使它成為重要的耐高溫材料、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑。其結構主要有三種晶型:單斜相、四方相以及立方相。不同晶體結構對應的物理化學性質有較大區(qū)別,X射...
D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,其應用范圍、數(shù)據(jù)質量、靈活性和可升級性毫不打折扣。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,適用于所有X射線粉末衍射和散射應用。與D8ADVANCE完全兼容,它具有面向未來的所有靈活性。面對...
由于具有出色的適應能力,*使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同...
X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結構樣品進行無損表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析: 掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結構性質測定,包括微晶尺寸和應變。 ...
D8 DISCOVER應用范圍材料研究 殘余應力分析、織構和極圖、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結構和物理特性,是 重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器。D8 D...
殘余應力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,對鋼構件的殘余應力進行分析。 使用了2D檢測器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結構特性。通過積分2D圖像,進行1D掃描,來進行定性相分析和微...
超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術的發(fā)展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節(jié)點的a20范圍內。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術...
D8 DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術組件。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計。 應用范圍: 1.定性相分析和定量相分析、結構測定和精修、微應變和微晶...
石油和天然氣D2 PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業(yè):使用D2 PHASER識別膨脹性粘土(PDF)...
RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)的XRD測試,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,這遠遠大于薄膜的厚度,導致薄膜的信號會受到襯底的...
獲得的TRIO光路簡化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換。系統(tǒng)無需人工干預,即可在三個光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚...
那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]:式中:0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,nm;0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,nm。為實際石墨試樣(002)晶面間距,nm。實例不同...
多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚、粗糙度等結構參數(shù)的有效無損檢測手段。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀...
粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細灰,粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物。粉煤灰是我國當前排量較大的工業(yè)廢渣之一。大量的粉煤灰不加處理,就會產(chǎn)生揚塵,污染大氣;若排入水系會造成河流淤塞,而其中的有毒化學物質還會對人體和...
D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知。緊湊輕便的外形和易于使用的設計,十分便于移動,您無需準備復雜的基礎框架、大而笨重的工作臺,也無需供應商前來安裝和調整,只需準備標準的電源插座,然后花費幾分鐘的時間,即可完成從拆包...
獲得的TRIO光路簡化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換。系統(tǒng)無需人工干預,即可在三個光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚...
材料屬性D2 PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器,主要用于研究和質控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結構、研究快速可靠的SAXS測量的納米結構或研究微觀結構(微晶尺寸)。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑(PDF)Er-Melilit...
D2PHASER—數(shù)據(jù)質量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知。得益于出色的分辨率、低角度和低背景,該儀器是從相識別、定量相分析到晶體結構分析的所有粉末衍射應用的理想解決方案。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角...
蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石。根據(jù)中國藥典,蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應用場合,它都是值得您選擇的探測器:高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分...
D8 ADVANCE Plus是D8 ADVANCE的又一版本,是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延):典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X...
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到...